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精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)

簡要描述：特點/應(yīng)用
精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)
滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.
最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測試
同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動
可放置于手套箱內(nèi)使用
形狀輕巧，操作方便，價格實惠

產(chǎn)品型號：CINDBEST CM-4 |
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2023-06-20
訪問量：1159

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產(chǎn)品詳情

精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)

臺體尺寸

水平旋轉(zhuǎn)	2英寸*3英寸
10微米
可升降mm
真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán)
左右各一個針座平臺，最多可放置6個探針座
樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極
400mm長380mm寬500mm高
約20千克

精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)

光學系統(tǒng)：

單筒顯微鏡/體式顯微鏡

16X-200X

水平方向繞立柱360度旋轉(zhuǎn)，Z軸50.8mm

外置LED無極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形光源

200萬像素/500萬像素/1200萬像素

定位器：

12mm*12mm*12mm

10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

磁力吸附/真空吸附

同軸線/三軸線

10pA/100fA/10fA

彈簧固定/管狀固定

BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子

0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

鎢鋼/鈹銅

可選附件

顯示器

射頻測試配件

光學平臺

光電測試配件

規(guī)格及設(shè)計如有更改，恕不另行通知。

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